EN 
FR
ID
ES
AR
KO
RU
DE
CN
Semiconductor / IC
Mula sa semiconductor material hanggang sa semiconductor component, sinasaklaw ng NGI ang buong chain ng industriya ng semiconductor testing. Lalo na, binuo ng NGI ang unang set ng pambansang high-precision na digital source meter para sa komprehensibong pagsubok ng semiconductor.
| Scenario ng Application | DUT | Parameter ng Pagsubok | Test Item | Inirerekumenda ang Produkto |
| Pagpupulong ng semiconductor Pagsusuri ng materyal na ari-arian Enerhiya na kahusayan at pag-iilaw Passive na bahagi Nanomaterial at aparato at iba pa | IC chip(RF CPU AFE MCU ADC BMIC) Diode MOS tube photoelectric sensor LED/AMOLED Photovoltaic/solar cell at iba pa | Pagsusuri ng resistivity Pagsusuri ng mga katangian ng bulwagan Pagsusuri ng wafer at iba pa | Sobrang-kasalukuyang pagsubok ng kakayahan Pagsubok sa pagtagas Aging pagsubok Pagsubok sa breakdown at iba pa | N2600 N9244 N23010 N23020 at iba pa |
